X射线衍射仪是一种什么样的仪器，和X射线荧光光谱分析仪有什么不同？

       X射线衍射仪是一种利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。采用了理学的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。这种仪器可分析粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品在内的多种材料，包括了金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。应用范围广泛。

样品检测

       这种检测仪器又有什么样的优势呢？

       1、直接传动高精度转矩马达与优良的光学编码器相结合，确保了仪器的传动速度和精度；

       2、可以进行常规的晶相识别和定量，可以分析晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算；

       3、光学系统可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或抛面镜单色器自由切换；

       4、高分辨的反射技术，让检测厚度至1-500nm，几何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，从而可以进行薄膜或层次分析；

       5、全部组件可以拆分为7个模块，同时可以在5个独立自由度上检测样品，适用于粉末、薄膜和块状样品；

       6、可以定量分析残余奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向、纳米粒子分析；

       7、将抛面镜单色器与晶体开槽技术有机结合，并安装在入射光束上，可以获得高强度、低散射适合高分辨率测量的平行单色光；

       8、强大、简便的操作软件使得检测工作更加简单，软件同时具有其他进阶功能，可以帮助用户对复杂的谱图进行分析。